薄膜測厚儀，又稱(chēng)為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

薄膜測厚儀的技術(shù)特點(diǎn)介紹

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標定制

測試過(guò)程中測量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差

支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶(hù)自由選擇

實(shí)時(shí)顯示測量結果的*大值、*小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷

配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性

系統支持數據實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統計、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結果

系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗操作和數據查看

支持Lystem™實(shí)驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告

標準的RS232接口，便于系統的外部連接和數據傳輸